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HORIBA近紅外熒光光譜儀NanoLog®介紹
點(diǎn)擊次數(shù):2026 更新時間:2021-12-22

HORIBA近紅外熒光光譜儀NanoLog®概述

HORIBA Scientific(Jobin Yvon光譜技術(shù))—-熒光光譜儀器的,提供全套穩(wěn)態(tài)、瞬態(tài)和穩(wěn)-瞬態(tài)以及各種偶聯(lián)技術(shù)的解決方案。

借助于成熟的FluoroLog®技術(shù),Nanolog®采用模塊化設(shè)計,即可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)態(tài)測量,也可實(shí)現(xiàn)瞬態(tài)測量(TCSPC技術(shù)),系統(tǒng)搭配成像光譜儀,可實(shí)現(xiàn)紅外三維熒光快速測量。

NanoLog ®系列儀器專門用于納米技術(shù)和納米材料的前沿研究,NanoLog ®可以檢測到800-1700nm的近紅外范圍,可選~2μm的多通道檢測器和~3μm的單通道檢測器,同時也可實(shí)現(xiàn)紫外-可見區(qū)熒光光譜測量。專為單壁碳納米管(SWNTs)設(shè)計的NanoSizer®軟件,可計算熒光共振能量傳遞(FRET)和碳管內(nèi)徑分布,并且在微秒時間內(nèi)就能獲得完整的二維光譜圖,1秒內(nèi)獲得的激發(fā)-發(fā)射三維熒光光譜圖。

可選附件:

· 超連續(xù)激光光源
· 液氮杜瓦瓶
· HPLC流通池
· 光纖導(dǎo)入支架
· 多芯光纖
· 四位電磁攪拌控溫樣品架
· 兩位電磁攪拌控溫樣品架
· 單池電磁攪拌控溫樣品架
· 固體樣品架
· 積分球
· 停留附件
· 顯微鏡耦合部件
· 多孔板閱讀器
· 鉑爾貼控溫裝置
· 外部觸發(fā)裝置
· 自動滴定注射附件
· 1~5/50/250μL微量樣品池
· 截止濾光片
· 偏振片附件
· 低溫附件

技術(shù)參數(shù):

· 450W的大功率連續(xù)氙燈,涵蓋UV~NIR波長范圍
· 快速獲得全波長范圍激發(fā)-發(fā)射三維熒光圖
· Symphony II InGaAs陣列檢測器:800~1700nm;規(guī)格可選:256×1,512×1和1024×1,單像元25µm;噪音水平:650erms (液氮制冷);可選電制冷;擴(kuò)展范圍可選(1.1-2.2µm)
· iHR320發(fā)射光譜儀:焦長=320mm;f/4.1;線色散=2.64nm/mm;分辨率=0.06nm;全軟件控制三光柵塔輪(所有測定在光柵刻線數(shù)1200gr/mm條件下)
· 固態(tài)近紅外檢測器,光電倍增管覆蓋UV~NIR全光譜范圍壽命測定,采用時間相關(guān)單光子計數(shù)技術(shù)測定熒光壽命范圍:100ps~1ms(UV~NIR);磷光壽命范圍1us~>10s(UV~NIR)

HORIBA近紅外熒光光譜儀NanoLog®特點(diǎn)

★ 一秒內(nèi)獲得激發(fā)-發(fā)射三維光譜
★ 高靈敏度的近紅外InGaAs陣列檢測器
★ 高光譜分辨率
★ 易于實(shí)現(xiàn)SWNTs的定性和定量分析
★ 可選多種檢測器適于紫外至近紅外光譜范圍的檢測需求:
– PMT用于高靈敏度和時間分辨的測量
– InGaAs陣列檢測器用于NIR數(shù)據(jù)的快速采集
– CCD陣列檢測器用于UV-Vis數(shù)據(jù)的快速采集
★ 同時解析量子點(diǎn)
★ 易于實(shí)現(xiàn)能量轉(zhuǎn)移研究
★ 模塊設(shè)計以滿足不同實(shí)驗(yàn)的需求